RF/Coaxial Socket

• Coaxial设计
• 空气绝缘或固体介质绝缘设计
• 绝缘固封的信号探针
• 1.00mm长度的测试探针
• 低电感系数
• 50ohms阻抗匹配
• Zo Block设计
• 高频：40GHz
• Qualmax Patent

POP/PIP Test Socket

• 人性化测试
• 信号测试稳定
• 短信号路径
• 准确对位
• 低电阻接触

手动测试 Lid

• 翻盖式
• CAM actuated
• Z轴固定式
• 螺栓固定式
• 温度控制式(冷&热)
• 弹簧驱动式

WLCSP 测试插座

如今在半导体行业中对晶圆测试的要求日益增高，Qualmax可为客户提供用于垂直探测应用上的晶圆级芯片封装(WLCSP)测试插座。

• Pitch: 最小可达0.09mm
• 行程: >0.2mm
• 弹力: 在3gf ~30gf之间
• Housing材质:工程塑料以及陶瓷
• Cres: 在15mOhms~200mOhms之间
• 低造价
• 简易的维修保养
• 高品质及超长的寿命周期 (可测1000K cycles)
• 交期: 2~3周
• 无弯曲变形问题

Kelvin测试插座

Kelvin测试插座可通过2颗绝缘的探针减少Cres error，Qualmax提供的Kelvin探针可在0.35mm pitch中适用于所有的阵列, 厂内生产的Kelvin探针具有质量优，成本低，以及易更换的优势。

• 适用于低电阻测试的QFN, DFN, MLF, LGA等芯片测试
• Pitch最小可达0.3mm
• 易更换探针
• 无探针定制费用(弹力, 信号长度, Pitch)
• 无锈钢以及Pd Alloy材质的探头测试寿命：>500,000 cycles
• 交期: 2~3weeks

普通测试插座

• 最小Pitch可达0.3mm
• 快速的定制设计
• 无定制费用